KIEES

소개

전자파측정기술연구회는 RF, microwave, mm-wave 대역에서 재료, 소자, 부품, 시스템 및 주변 환경의 전자기적 특성을 규명하는데 필요한 이론적으로나 실험적으로 증명된 시험 및 측정기술을 연구하고, 그 기술을 워크샵, 기술논문 및 다른 매체를 통하여 산업체, 학계, 연구기관 등에 제공하여 전자파 관련 연구 및 측정의 신뢰도 향상에 기여한다.

주요 연구 분야

- 기본 전자파 측정량
- High speed microelectronics metrology
- 각종 전송선로 및 전파전파 특성측정
- Nonlinear device 특성평가
- 재료의 전자기적 특성 측정
- Metrology for thin-film devices, RFIC, MMIC
- Metrology for telecommunication, remote sensing, radar, astronomy, inverse scattering, etc.
- 안테나 특성, RCS 측정
- Emission and immunity metrology
- EMI/EMC, 안테나 특성, RCS 측정시설 평가 등

인사말

회원 여러분 안녕하십니까?

현대의 정보화 사회에서는 전자파의 직간접적 이용이 점점 더 활성화되고 있습니다. 전자파를 이용하는 기술과 제품들이 우리의 일상생활을 비롯하여 모든 사회영역에서 광범위하게 사용되고 있습니다. 또한 전자파 이용 주파수가 고주파화 되고, 전자파 이용 제품들이 다기능화, 소형화되면서 새로운 측정기술 및 복합 측정기술이 요구되고 있습니다. 이러한 이용기술 및 제품의 개발에는 재료의 선정에서부터, 제품설계, 시제품제작, 성능검증, 완성품제작에 이르기까지 전 단계에서 많은 전자파 측정기술이 이용되고 있습니다. 이러한 측정기술은 우리가 숨을 쉬는데 없어서는 안 되는 공기처럼 저변에 놓여있기 때문에 그 중요성을 인식하지 못하는 경우가 많습니다. 더 나아가 우리나라 수출의 많은 부분을 차지하고 있는 전자제품 등의 국제경쟁력 향상을 통한 수출 증진을 위해서는 국제표준에 소급성을 갖는 정확한 전자파 측정기술이 필요합니다. 국내 전자파 측정기술뿐 아니라 관련 학문 및 산업의 발전을 위해서는 산업체, 연구소 그리고 학계의 관심 있는 분들의 적극적이고 활발한 참여가 필요하며, 상호 유대를 강화하는 장이 될 수 있도록 성원하여 주시기 바랍니다.

위원장 김 정환 배상

연혁

조직도

전자파 측정기술 연구회 행사 일정

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